頻率計(jì)/頻率計(jì)/數(shù)字頻率計(jì) 型號：DP-2003

、 概述
尊敬的用戶，感謝您選用本儀器。在使用前請您通讀并弄懂本儀器的細(xì)節(jié)，以便正確操作，從而取得的效果。
本儀器是個(gè)0.001Hz—2.4G的頻率計(jì)，能有：頻率測量、累計(jì)計(jì)數(shù)、周期及晶體測量，作狀態(tài)記憶等能，可直測數(shù)字手機(jī)的射頻頻率（內(nèi)市場尚未出現(xiàn)）、手機(jī)GSM制射頻幀周期，區(qū)別手機(jī)制式（GSM或CDMA），以及晶體固有頻率的測量，能由個(gè)單片計(jì)算機(jī)來成，故儀器體積小巧、簡潔緊湊，能多，性能可靠，且價(jià)格低廉，實(shí)是修理行業(yè)以及電子廠調(diào)試*的儀器。
二、標(biāo)
（）頻率測量
A、量程：
1檔 30 MHz — 2400 MHz
2檔 1 MHz — 30 MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B" 按下，x 20）
3檔 10 Hz — 1 MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B"按下，x 20）
8檔 0.001 Hz — 100 Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
B、閘門時(shí)間：0.1秒、1秒、5秒、10秒共分4檔
C、輸入靈敏度：35 mV — 30 V
D、輸入阻抗：30 MHz — 2.4 GHz為50 Ω、其余為1 MΩ
E、時(shí)基：12 MHz，穩(wěn)定度為2 x 10-6/秒
F、度：基準(zhǔn)時(shí)間誤差 x 頻率 + 1個(gè)計(jì)數(shù)值
G、分辯率：1個(gè)計(jì)數(shù)值（滿量程8位數(shù)顯示時(shí)）
（二）周期測量
6檔（下降沿有效），由“常態(tài)/放大"開關(guān)行選擇。10 Hz—30 MHz輸入端輸入。輸入幅度2.5—5V，TTL電平，zui大不過5V。zui小周期為30us，zui大周期為4294967295us，可顯示周期數(shù)值99999999，分辯率為1us。
（三） 累計(jì)計(jì)數(shù)：4檔位10 Hz—30MHz 輸入端輸入，其分辯率為1個(gè)計(jì)數(shù)值。
（四） 晶體測量：5檔位 插口A測30 KHz — 5MHz（晶體鍵彈出），插口B測2 MHz — 24 MHz晶體，實(shí)際可測到50MHz（晶體健按下）。
三、 本儀器的特點(diǎn)
A、測量范圍寬、度：可測0.001Hz—2400MHz的正弦波、方波、三角波等信號的頻率。
B、具有多種測量能：
① 可測數(shù)字手機(jī)的射頻頻率（815—960MHz、1800—1990MHz）以及對講機(jī)、無線機(jī)的發(fā)射頻率。
② 可識別手機(jī)的制式（GSM或CDMA）。
③ 可測GSM制的射頻周期（周期為4615us）。
④ 可測石英晶體振蕩器的固有頻率（30 KHz — 50MHz）。
⑤ 可測輸入信號的周期。
⑥ 可對輸入信號累計(jì)計(jì)數(shù)，切斷儀器電源后能保存上次的原有狀態(tài)，及具有記憶能。
四、 儀器的使用
A、頻率的測量：
① 選擇合適的信號輸入端：本儀器面板左邊有三個(gè)信號輸入端，zui上為30MHz—2.4GHz信號輸入端，中間為10Hz—30MHz信號輸入端，下面為0.001Hz—100Hz信號輸入端，（2.5V—5V有效）。
② 按動“閘門"按鍵，選好合適的閘門時(shí)間，每按動次“閘門"按鍵，閘門時(shí)間就變化次，按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循環(huán)變化。閘門時(shí)間越長，分辨率越，但測試速度也越慢。
③ 按動“檔位"按鍵，測頻率應(yīng)選擇1、2、3、8各檔位中的個(gè)，每檔測量頻率范圍如下：
1檔 30MHz——2400MHz
2檔 1MHz—30MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B"
按下，x 20）
3檔 10Hz—1MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B"按
下，x 20）
8檔 0.001Hz—100Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
④ 按“確定"鍵后，即開始測量并顯示。
由于低頻率時(shí)是阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時(shí)會產(chǎn)生阻抗嚴(yán)重失配，可在低頻的探頭上串接個(gè)1MΩ的電阻。
B、周期的測量：
① 可測量周期的范圍：30us—1.19 h，但zui多只能顯示8位數(shù)字。
② 選用中間個(gè)輸入端口，測小信號時(shí)（35MV—5V）按下“常態(tài)/放大"鍵，“A、B“抬起。測大信號時(shí)，“A、B"鍵和“常態(tài)/放大"鍵同時(shí)按入。
③ 如TTL電平從zui下面的輸入端輸入，幅度為2.5V—5V有效，“常態(tài)/放大"鍵和“A、B"鍵均抬起。
④ 按動“檔位"鍵，選6檔，按“確定"鍵后即開始測量并顯示，單位為微秒。
C、累計(jì)計(jì)數(shù)的方法：
① 選用10Hz—30MHz端口作累計(jì)計(jì)數(shù)輸入端。
② 檔位選4檔，按下“確定"鍵后即開始計(jì)數(shù)。
③ 停止計(jì)數(shù)需切斷信號源。
D、石英晶體固有振蕩頻率的測量：
① 選好合適的晶體測量口：本儀器面板提供兩個(gè)晶體測量口，由面板A、B晶體按鍵來選擇。A口可測30KHz—4MHz晶體，B口可測2MHz—24MHz晶體（實(shí)際可測到50MHz以上的晶體，24MHz以上晶體用顯示值乘以3即為實(shí)際振蕩頻率）。
② 按動“閘門"鍵，選好合適的閘門時(shí)間。
③ 按動“檔位"鍵，選5檔，按“確定"鍵后即開始測量并顯示。
E、手機(jī)制式的識別：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插根長約5公分左右的導(dǎo)線作接收天線。
② 選6檔位，按“確定"鍵，“常態(tài)/放大"鍵抬起。
③ 用手機(jī)撥號后如出現(xiàn)4615us或它的整頻倍時(shí)，則表明該手機(jī)是GSM制式，反之是CDMA制。測量時(shí)出現(xiàn)7-8個(gè)微秒的誤差屬正?，F(xiàn)象。
F、手機(jī)發(fā)射頻率的測量：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插根長約5公分左右的導(dǎo)線作接收天線。
② CDMA制手機(jī)和模擬手機(jī)選用1檔，GSM手機(jī)選用7檔，閘門均選用0.1秒，“常態(tài)/放大"鍵抬起。
③ 按“確定"鍵后，用手機(jī)撥號即可測出并顯示手機(jī)發(fā)射頻率。
五、 注意事項(xiàng)
①測量頻強(qiáng)輻射信號時(shí)，無線方式應(yīng)遠(yuǎn)離信號源，有線方式應(yīng)串接大電阻，如果信號過30V時(shí)，還應(yīng)按下面板A、B晶體選擇按鍵（20倍衰減器）以免損壞儀器。
②本機(jī)在無信號輸入時(shí)，可能是非零顯示，這是正?，F(xiàn)象，不影響測試度。
③有時(shí)儀器可能出現(xiàn)下列現(xiàn)象：數(shù)碼管顯示出非正常數(shù)字（缺筆畫），數(shù)碼管會停止刷新數(shù)字，這并非儀器出現(xiàn)故障，只要再按下復(fù)位鍵，儀器便可恢復(fù)正常作。
④本機(jī)采用新版CPU，程序已經(jīng)過加密處理。如用戶私自解密成程序損壞，
不屬保修范圍。
⑤測量手機(jī)射頻和幀周期時(shí)，并不是穩(wěn)定地顯示某數(shù)值，這是手機(jī)通信原理所決定的，并非儀器不穩(wěn)定。
⑥8檔位的測量單位是Hz，6檔位的測量單位是微秒。
⑦測對講機(jī)發(fā)射頻率應(yīng)根據(jù)對講機(jī)的頻率范圍選擇合適的檔位，且對講機(jī)應(yīng)由遠(yuǎn)近靠近頻率計(jì)。
⑧測BP機(jī)，子母機(jī)，對講機(jī)的本振頻率應(yīng)在探頭上串接只5 P左右的小電容后去探測測量點(diǎn)。
⑨測量手機(jī)射頻頻率，測周期，測射頻幀周期，計(jì)數(shù)和測晶體，共用了個(gè)
示燈。
六、 其它
①電源：交流220 V±20 %、50 Hz
②環(huán)境溫度：-5℃- + 40℃(正常作時(shí)需預(yù)熱10分鐘)
③相對濕度：10%-90% RH
④外形尺寸：202mm （寬）x 75 mm（）x 230 mm（長）
⑤重量：約1Kg
⑥附件：測試電纜線根，電源線根，說明書份。

頻率計(jì)/頻率計(jì)/頻率計(jì)/數(shù)字頻率計(jì) 型號：DP2000

本儀器可測量10Hz－2.4G之振蕩頻率，具有七位亮度LED顯示，該機(jī)性能穩(wěn)定、測量度、體積小、重量輕、價(jià)格低廉，是個(gè)既能測頻率又能測周期、計(jì)數(shù)和電容測試儀器。

標(biāo)
、 頻率計(jì)：
1、 測量范圍： 10Hz－2.4GHz
2、 量程： （1） 檔 10Hz－10MC
（2） 檔 10Hz－50 MC
（3） 檔 50MC－2400 MC

3、 閘門時(shí)間：0.02S、0.2S、2S選
4、 靈敏度：≤20mV
5、 阻抗：1MΩ、50Ω
6、 度：基準(zhǔn)時(shí)間誤差 x 頻率 ±1計(jì)數(shù)值
7、 數(shù)顯：7位
二、周期：
1、 測量范圍：1－9999999S
2、閘門時(shí)間：0.01S、0.1S、1S 選
三、計(jì)數(shù)：1－9999999
四、電容：測量范圍 10P－5000UF誤差±5％
五、電源電壓：220V ±20％ 50Hz
六、計(jì)數(shù)測量：按下“計(jì)數(shù)鍵", “G"燈亮，再按“清零鍵"，清零復(fù)位，脈沖由低頻輸入口（10Hz-50Mc）輸入，然后開始計(jì)數(shù)。
七、電容測量：按下電容鍵，將電容用隨機(jī)所附的測試線接入CX插座（電解電容注意性，紅插座接＋）根據(jù)所測電容選擇適當(dāng)量程10UF或10KVF，該開關(guān)處于復(fù)位狀態(tài)時(shí)，測10p-10UF，按下時(shí)測0.01UF－5000UF,測10P－50P電容時(shí)要減去分布電容8P，電容容量較大時(shí)，所需測量的時(shí)間較長。
八、晶體測量：按下10UF電容鍵和閘門鍵，頻率選用10M或50M檔，接口在晶振插口測得晶振值，測量范圍2M-24M。
九、附件：測試電纜線二根（低頻黑色、頻灰色各根）；晶振、電容測試線對；電源線根；說明書份。

注意！電壓、容量的電容放電后測量，否則會損壞本儀器。在測量過程中OF發(fā)光管作時(shí)，說明被測量數(shù)值已溢出，請選檔量程.

自動漆膜干燥時(shí)間測定儀/ 型號:DPQGZ

說明：為了面詳細(xì)了解涂層干燥和固化過程，需要有種可自動測定涂膜干燥過程時(shí)間的儀器，這樣可以方便試驗(yàn)人員準(zhǔn)確而效得到個(gè)科學(xué)數(shù)據(jù)，DPQGZ-24自動漆膜干燥時(shí)間測定儀原理為選用單片微機(jī)控制度步電機(jī)，帶動面觸點(diǎn)的劃桿，在定的載荷下通過恒定速度，劃針勻速在待測漆膜表面做圓周運(yùn)動，通過劃針在涂膜表面軌跡用干燥時(shí)間圖表覆蓋后來判定涂料成膜過程。

主要標(biāo)：
■ 電源：220V±10%，50HZ
■ 劃桿旋轉(zhuǎn)周速度：24h/r
■ 劃針半徑：0.25/0.5/1.0/1.5mm

多用頻率計(jì)/數(shù)字頻率計(jì)/數(shù)字頻率儀 型號：DP-3B

*章 概 述
、概述：
DP-3B型數(shù)字頻率計(jì)具有：頻率測量、脈沖計(jì)數(shù)及晶體、彩電中周校準(zhǔn)等能，并有三檔時(shí)間閘門、五檔能供選擇和八位LED數(shù)碼顯示，頻率從10Hz—2400MHz的頻率計(jì)。能是用個(gè)單片微處理器（CPU）來成的，從而整機(jī)性能穩(wěn)定，體積小，使用攜帶方便，是種性能、低價(jià)位的理想數(shù)字化儀表。
二、條件及說明：
1、測量：
（1）輸入端口
a、30 MHz — 2400 MHz 的頻通道端口
b、10 Hz — 30 MHz的低頻通道端口
c、晶振插孔為晶體測量端口
（2）頻率測量
a、量程：
C 0ㄈh 為“0"檔 測量頻率為30 MHz — 2400 MHz
C 1ㄈh 為“1"檔 測量頻率為30 MHz — 800 MHz
C 2ㄈh 為“2"檔 測量頻率為100 KHz — 30 MHz
C 3ㄈh 為“3"檔 測量頻率為10 Hz — 30 MHz
b、分辯率：
1 Hz, 10 Hz， 100 Hz
c、度：
±1計(jì)數(shù)值±基準(zhǔn)時(shí)間誤差x 頻率
d、閘門時(shí)間：
0.1S， 1S， 10S
e、輸入靈敏度：
20 MV
f、輸入阻抗：
50 Ω/ 1 MΩ
j、zui大輸入電壓：
30 V
2、計(jì)數(shù)測量：
在“4"檔位（ C4ㄈh）由10 Hz — 30 MHz插口輸入，分辯率為±1輸入計(jì)數(shù)值。
3、晶體測量:
在“2"和“3"檔位上從面板晶振輸入插孔插入欲測之晶體，測試晶振范
圍為100KHz — 40 MHz（24MC以上為測量值x3）。
4、中周校準(zhǔn)：
①頻率范圍： A單片機(jī)、四片機(jī)的視頻檢波中周37.8MHz
AFT：37MHz
B 兩片機(jī)的視頻檢波中周 38.7MHz
AFT：37.8MHz
②頻率誤差：±0.2MHz
5、電源電壓：AC 220 V ± 10% ； 頻率50 Hz
6、 耗： 3 W
7、溫 度： 使用范圍 -5℃ — +50℃
存放運(yùn)輸 -40℃ — +60℃
8、濕 度： 10-90 % RH 存放運(yùn)輸 5-90 % RH
9、預(yù)熱時(shí)間：10分鐘
10、尺 寸：200 x 60 x 160 (mm)
11、重 量：約0.5 Kg
二章 操作方法
1、頻率的測量：當(dāng)測量的頻率為10 Hz — 30 MHz時(shí)，“晶體、中周"鍵
彈出，將隨機(jī)所配的測試線插入下面的插座中，按動“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔，按動“閘門"按鈕，當(dāng)測試頻率為800 MHz以上時(shí)，可選用本機(jī)上面的插座，按動“檔位"鍵到“0"檔，當(dāng)頻率小于800 MHz時(shí)，請選用“1"檔，同時(shí)選用適當(dāng)?shù)拈l門時(shí)間，頻率越低，選用的閘門時(shí)間越長，反之越短。
由于低頻率時(shí)是阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時(shí)會產(chǎn)生阻抗嚴(yán)重失配，可在低頻的探頭上串接個(gè)1MΩ的電阻。
2、晶體的測量：將“晶體、中周"鍵按下，“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔，測量100KHz—3MC，面板插孔為1、2孔，3MC—24MC，面板插孔為3、4孔。
3、中周校準(zhǔn)：將“晶體、中周"鍵按下，“檔位"按鈕到“0"檔，將中周插入面板插座的下方。兩片機(jī)中頻中周頻率范圍大約在38.9MC，單片機(jī)和四片機(jī)大約在37.8MC，AFT中周單片機(jī)大約37MHz，兩片機(jī)大約37.8，根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)確定）。拆下電視機(jī)的圖象中頻中周或AFT中周，將與中周線圈并聯(lián)的瓷管電容拆開，選擇只電容（47P－75P）并接在中周的腳上，再將中周相應(yīng)的腳，插入面板插座下面的插孔中，此時(shí)即顯示頻率值，無感起子緩慢調(diào)節(jié)磁芯，
到相應(yīng)的數(shù)值。AFT檢波線圈應(yīng)顯示在37.8MC上。注意有的電視機(jī)的中周殼
中不帶諧振電容，而是按裝在線路板上，這種情況應(yīng)將中周和電容起拔下，并聯(lián)好后再調(diào)校（校后裝入電視機(jī)上，有的需要左右微動磁芯少許）。
4、計(jì)數(shù)：在10 Hz — 30 MC插口，接入電脈沖，“檔位"選至“4"，即
可計(jì)數(shù)。
三章 附 件
1、說明書份
2、測試電纜線根
3、電源線根

鉛筆硬度計(jì)/便攜式鉛筆劃痕試驗(yàn)儀 型號:DPQHQ

鉛筆硬度儀涂膜硬度涂料涂料使用（涂表）行業(yè)便攜式鉛筆劃痕試驗(yàn)儀

）用途

涂膜硬度是涂料、涂料使用（涂裝）行業(yè)行質(zhì)量認(rèn)定的測標(biāo)。鉛筆劃痕法測試涂膜硬度是自八十年代以來被普遍采用測試的方法。我也已在涂料的發(fā)展研究和業(yè)中推廣這種測試方法。本儀器是根據(jù)家標(biāo)準(zhǔn)“涂膜硬度鉛筆測定法"GB/T6739-1996的。儀器即可在實(shí)驗(yàn)室使用，也可用于施現(xiàn)場，并能在意方向上對涂膜硬度行檢定。

二)參數(shù)荷重：1000±1g鉛筆與試樣夾角：45°鉛筆規(guī)格：6H-6B劃痕速度：1mm/S

三)使用方法:

參數(shù)

1.準(zhǔn)備般為平滑馬口鐵板120*50*(0.2~0.3)mm或產(chǎn)品另行規(guī)定的底材及尺寸.

2.用鉛筆刀小心把每只鉛筆前端削去木質(zhì)分.露出3毫米柱狀鉛芯(不可使鉛芯松動或削傷鉛芯).

3.儀器放在平整的作臺上,將墊塊放在儀器下.將削好的鉛插入儀器主體孔內(nèi),鉛筆芯菱邊接觸到作臺,旋緊螺釘使孔內(nèi)鉛筆夾緊(反旋螺釘可卸下鉛筆),,反復(fù)調(diào)緊固定鉛筆.去掉墊塊將儀器放在被測試板上,用力(此力大小使鉛芯端緣破碎或犁傷涂膜)以每秒1MM的速度向前推,從zui硬的鉛筆開始,每級鉛筆犁五道3MM長的痕跡,直至找出不能犁傷涂膜的鉛筆為止.此鉛筆硬度即代表所測涂膜的鉛筆硬度(具體判定方法根據(jù)GB/T6739-1996標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定行).

四)維護(hù)和保養(yǎng):實(shí)驗(yàn)結(jié)束后,將儀器擦拭干凈放入儀器盒內(nèi),置于干燥處.

能用途：

本鉛筆硬度計(jì)依據(jù)GB/T6739-1996。涂抹表面對作用其上的另硬度較大的物體，所表現(xiàn)的阻力，也就是測定漆膜抵抗變形的能力。以鉛筆標(biāo)號表示。適用于涂膜硬度測試。

二、參數(shù)：
1．試驗(yàn)儀：要保證砝碼的重量1000±50g垂直作用于鉛筆芯與試驗(yàn)臺交點(diǎn)上，使鉛筆與試驗(yàn)臺保持45度夾角不變。試驗(yàn)臺可移動，用鉛筆劃出痕跡。
2．組中華牌繪圖鉛筆HB、1H-6H、1B-6B共13支。鉛筆制備：削去木桿露出3mm鉛芯，在砂紙上畫圓圈，將鉛筆尖磨成平面使邊緣銳利。

注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應(yīng)的